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SEMI MF1535 — Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance
0008 Ω·cm and 6000 Ω·cm
FPD用ガラス基板の有効範囲外に刻印されるマーキングシンボルの内容・寸法・位置（表面上の）を記述している。
Flat Panel Display – Materials & Components Global Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は2009年12月16日，global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。2010年2月にwww
Category 1
G05500 - SEMI G55 - リードフレーム銀めっき光沢度の測定方法 Revision:SEMI G55-93 (Reapproved 0811) - Superseded SEMI MF1535 — Test Methodglobal Assembly & Packaging Technical Committee201171global Audits and Reviews Subcommittee20118www. semiviews. org www. semi. org1993200411 : Referenced SEMI Standards SEMI G21 Specification for Plating Integrated Circuit Leadframes